衍射儀附件

X射線探測器系列化

線性探測器

正比探測器、閃爍探測器

使用時需要配置單色器，有效去掉Kβ線。

最大線性計數(shù)：≥5×10⁵CPS。

能譜分辨率：正比≤25%、閃爍≤50%。

半導(dǎo)體陣列探測器

D/HY-2SA型半導(dǎo)體陣列探測器，有效面積14×14mm、像素尺寸50μm、像素數(shù)量280×280、每個像素線性計數(shù)值不低于3×10⁶。

DX系列衍射儀配置 D/HY-2SA型陣列探測器可以選擇使用0D或是1D或是2D測量方式。0D測量方式滿足低角度（0°開始）測量需求，1D測量方式實現(xiàn)對樣品快速測量，樣品測量速度較常規(guī)線性探測器提高60倍以上。

圖片1.jpg

同時D/HY-2SA探測器對含有Fe、Co、Ni的樣品有較好的峰背比。

圖片2.jpg

2D測量方式用拍照方法獲取2θ角4度范圍內(nèi)的衍射環(huán)，快速、直觀測得環(huán)境因素對衍射峰影響的變化趨勢。

半導(dǎo)體線陣探測器

探測器MYTHEN2 1D detector 由瑞士 DECTRIS Ltd.生產(chǎn)。

DX系列衍射儀配置MYTHEN2 1D detector后可以選擇使用0D或是1D測量方式，0D測量方式滿足低角度（0°開始）測量需求，1D測量方式實現(xiàn)對樣品快速（36°/分）測量。

圖片2.png

由640個硅條組成的一維半導(dǎo)體陳列探測器，能量分辨率687eV、硅條寬度50μm、能量范圍4-40keV、每條線性計數(shù)率大于1×10⁷，相比傳統(tǒng)的閃爍或正比探測器可以提高衍射強(qiáng)度有較大提高，在較短時間內(nèi)完成衍射譜圖測量。

SDD探測器

AXAS-M H150 CUBE Class型SDD探測器，能量分辨率小于300eV，有效窗口面積不小于150mm²，最大線性計數(shù)率大于1.5×10⁵cps。

較常規(guī)的正比探測器或是閃爍探測器+單色器樣品測量速度提高3-4倍。由于SDD探測器能量分辨率高，能有效除掉樣品熒光效應(yīng)，尤其對含有Fe、Co、Ni等重金屬樣品更為突出。

圖片3.png

Fe2O3樣品衍射譜圖（a）線性探測器，（b）SDD探測器。