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衍射儀薄膜測(cè)量裝置

衍射儀薄膜測(cè)量附件由多層膜反射鏡和三維薄膜樣品架組成,實(shí)現(xiàn)對(duì)大于20nm薄膜樣品測(cè)量??蓪?shí)現(xiàn)對(duì)薄膜樣品進(jìn)行薄膜反射分析XRR(針對(duì)多晶、單晶多層薄膜厚度、密度、粗糙度進(jìn)行精確分析)、薄膜掠入射分析GIXRD(精確分析多層膜中材料的組成、次序、取向等)。

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三維薄膜樣品架

四維薄膜樣品架與測(cè)角儀安裝設(shè)有定位裝置,激光測(cè)距定位衍射面,安裝、拆卸方便,即插即用,無(wú)需調(diào)整光路。最大可測(cè)量樣品尺寸:φ70×10mm(或按用戶要求設(shè)計(jì)可以測(cè)量樣品尺寸)、樣品升降精度(Z)軸:1μm。



范    圍
參    數(shù)
PSI角
轉(zhuǎn)動(dòng)范圍0-70°
轉(zhuǎn)動(dòng)精度0.1°
CHI角
轉(zhuǎn)動(dòng)范圍±5°
轉(zhuǎn)動(dòng)精度0.05°
Z軸
距離0~15mm
精度0.001mm


平行光源由多層膜反射鏡(G?bel Mirror)和腔體及腔體調(diào)整機(jī)構(gòu)組成,安裝機(jī)構(gòu)與衍射儀前索拉狹縫體實(shí)行互換,平行光源在出廠前已經(jīng)調(diào)整好了,操作人員不需要調(diào)整。

 3333.jpg

G?bel Mirror鏡平行光發(fā)散度小于0.028°,反射效率大于70%



圖片2_副本.png

薄膜樣品XRR衍射譜圖



圖片3_副本.png

搖擺測(cè)量衍射譜圖



圖片4_副本.png

薄膜掠入射分析GIXRD測(cè)量



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